MEMS 1xN(2≤N≤32) 保偏光开关-模块封装
欧亿光电(OE Photonics)的MEMS 1xN(2≤N≤32) 光开关是基于MEMS(微机电系统)技术的一种允许在单个输入光和32个输出光之间
进行信道选择的光开关,具有尺寸小、寿命长和可靠性稳定等特点,被广泛应用于OADM和OXC等光网络领域。
|
特征 | 应用 |
尺寸小 | 光网络监测 |
重复性高,稳定性好 | 数据中心 |
符合GR-1073、GR-1209和GR-1221标准 | 光纤传感 |
主要规格
参数 | 单位 | PM | ||||
光开关类型 | -- | MEMS | ||||
通道数 | CH | 2 | 4 | 8 | 16 | 32 |
波长 | nm |
1310±30 or 1550±30
|
||||
插入损耗(Max) IL |
db
|
0.6
|
0.7
|
0.8
|
1.8 | 2.2 |
回波损耗RL
|
dB
|
≥50
|
||||
消光比 PER
|
dB
|
≧18,22,26,30
|
||||
重复性 |
dB
|
≤0.03
|
||||
串扰 |
dB
|
≥45
|
||||
偏振相关损耗PDL |
dB
|
≤0.15
|
||||
波长相关损耗 WDL |
dB
|
≤0.3@CWL±30nm, 23℃
|
||||
温度相关损耗 TDL |
dB
|
≤0.3
|
||||
工作温度 | ℃ |
-5~70
|
||||
存储温度 |
℃
|
-40~85
|
||||
切换响应时间 | ms |
≤20
|
||||
寿命 | Cycle |
≥1×10^9
|
||||
驱动电压 | V |
5~12V
|
||||
注: 1. 以上测试损耗(IL)是基于中心波长±30nm,23℃下测试的结果。
2. 重复性数据是基于100 cycle重复测试的结果。
3. 不含连接头,包含连接头插损增加 0.2dB。
|