MEMS 1XN(2≤N≤48)光开关-模块封装
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欧亿光电(OE photonics)的MEMS 1xN光开关是基于MEMS（微机电系统）技术的一种允许在单个输入光和N个输出光之间进行信道选择的光开关，具有尺寸小、寿命长和可靠性稳定等特点，被广泛应用于OADM、OXC、OPM等光网络领域。 |
| 特征 | 应用 |
| 尺寸小 | 光网络监测 |
| 重复性高，稳定性高 | 数据中心 |
| TTL或I2C控制接口 | 光纤传感 |
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符合GR-1209和GR-1221标准 |
主要规格
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参数 |
单位 |
SM |
MM |
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通道数 |
CH |
2 |
4 |
8 |
12 |
16 |
24 |
32 |
48 |
2 |
4 |
8 |
12 |
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波长 |
nm |
1310±30 or 1550±30 or 1625±30 |
850±30 or 1310±30 |
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插入损耗(Max) IL |
dB |
0.6 |
0.7 |
0.8 |
1.0 |
1.0 |
1.2 |
1.4 |
1.5 |
0.6 |
0.7 |
0.8 |
1.0 |
|
回波损耗 RL |
dB |
≥50 |
≥30 |
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重复性 |
dB |
≤0.03 |
≤0.05 |
≤0.03 |
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串扰 |
dB |
≥50 |
≥45 |
≥30 |
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偏振相关损耗 PDL |
dB |
≤0.15 |
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波长相关损耗 WDL |
dB |
≤0.3@CWL±30nm, 23℃ |
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温度相关损耗 TDL |
dB |
≤0.3 |
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工作温度 |
℃ |
-5~70 |
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存储温度 |
℃ |
-40~85 |
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切换响应时间 |
ms |
≤20 |
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寿命 |
Cycle |
≥1×109 |
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驱动电压 |
V |
5~12V |
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端口控制类型 |
TTL or TTL/RS232 or TTL/I2C |
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注: 1. 以上测试损耗(IL)是基于中心波长±30nm，23℃下测试的结果，要求多波段增加0.2dB。 2. 重复性数据是基于100 cycle重复测试的结果。 3. 不含连接头，包含连接头插损增加0.2dB。 |
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